光谱法合金分析仪工作原理介绍

        合金分析仪是一种XRF光谱分析技术，可用于识别和量化物质中的特定元素。它可以根据X射线的发射波长（λ）和能量（E）确定特定元素，并通过测量相应射线的密度来确定该元素的含量。 XRF光谱可以确定物质的元素组成。
        每个原子都有自己固定数量的电子（带负电的粒子）围绕原子核运行。并且电子的数量等于原子核中的质子（带正电的粒子）的数量。质子数由元素周期表中的原子数可知。每个原子序数对应一个固定的元素名称。能量色散X-荧光和波长色散X-射线荧光光谱分析技术专门研究和应用了内层的三个电子轨道，即K、L和M。K轨道*接近于原子核，每个电子轨道对应于某种元素的特定能量层。
        在 XRF 分析中，从 X 射线管发射的高能初级射线光子撞击样品元素。这些初级光子包含足够的能量来击落内层（K 层或 L 层）中的电子。此时，原子变成不稳定的离子。由于电子本能地寻求稳定性，因此来自外层 L 或 M 层的电子进入构成内层的空间。当这些电子从外层传递到内层时，它们会释放出称为二次 X 射线光子的能量。整个过程称为荧光辐射。每种元素的二次射线都有自己的特点。 X射线光子荧光辐射产生的能量是由电子转换过程中内外层的能量差决定的。特定元素在一定时期内发射的 X 射线的数量或密度可用于测量该元素的数量。典型的 XRF 能量分布光谱显示了不同能量下的光子密度分布。