CX-118A晶振测试仪

CX-118A晶振测试仪

使用微处理器技术，实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高，灵敏度高，速度快，闸门时间可选；具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能；中心频率（标称频率）F₀、分档值P_r1～P_r8(ppm) 、上限频率F_U、下限频率F_L可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

技术参数：

频率测量：A通道:1Hz～100MHz；

B通道:100MHz～1.6GHz(选件)

周期测量：A通道:10ns～1s

PPM测量：-9999～9999ppm

上、下限测量：可根据用户所设定的上限参数F_U、下限参数F_L来测量被测频率是否超出上、下限，超限则报警。

分档测量：根据用户所设定的中心频率F₀自动进行分档测量。分档值：P_r1～P_r8999ppm之间任意设置

分档档数：以中心频率F₀为中点左右分成16档

累加计数：计数容量：0～10⁹－1 (选件)

计数方式：键控、门控或外门控可选。

3.2 输入特性输入阻抗： A通道: 1MΩ//40pF

B通道: 50Ω3.2.2 输入耦合方式：AC3.2.3 波形适应性：正弦波、脉冲波

CX-118A晶振测试仪

主要特征
2．1 本机采用倒数计数技术，测量精度高，测量范围宽，真正实现等精度测量，测量速度快，灵敏度高。
2．2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理，使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能／价格比。
2．3 整机采用大规模集成电路设计，CPLD器件的运用，使仪器元器件大为减少，可靠性有了很大的提高，平均*工作时间≥10000h。整机外型美观大方，体积小，重量轻，使用方便。