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CX-118A晶振测试仪

CX-118A晶振测试仪

更新时间:2021-06-03

简要描述:

CX-118A晶振测试仪
该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

CX-118A晶振测试仪

使用微处理器技术,实现了智能化测量。本系列仪器采用倒数计数技术实现等精度测量。它测量精度高,灵敏度高,速度快,闸门时间可选;具有频率测量、周期测量、PPM测量、分档测量、上下限测量、累加计数等功能;中心频率(标称频率)F0、分档值Pr1Pr8(ppm) 、上限频率FU、下限频率FL可任意设定并能存储。该机前置电路有低通滤波器、衰减器等。特别适合晶体行业、邮电、通信、广播电视、学校、研究所及工矿企业的生产和科研之用。

技术参数:

频率测量:A通道:1Hz~100MHz;

B通道:100MHz~1.6GHz(选件)

周期测量:A通道:10ns~1s

PPM测量:-9999~9999ppm

上、下限测量:可根据用户所设定的上限参数FU、下限参数FL来测量被测频率是否超出上、下限,超限则报警。

分档测量:根据用户所设定的中心频率F0自动进行分档测量。分档值:Pr1~Pr8999ppm之间任意设置

分档档数:以中心频率F0为中点左右分成16档

累加计数:计数容量:0~109-1 (选件)

计数方式:键控、门控或外门控可选。

3.2 输入特性输入阻抗: A通道: 1MΩ//40pF

B通道: 50Ω3.2.2 输入耦合方式:AC3.2.3 波形适应性:正弦波、脉冲波

CX-118A晶振测试仪

主要特征
2.1 本机采用倒数计数技术,测量精度高,测量范围宽,真正实现等精度测量,测量速度快,灵敏度高。
2.2 采用单片微机技术进行周期频率测量和智能化管理,使得仪器具有很高的可靠性和优良的性能/价格比。
2.3 整机采用大规模集成电路设计,CPLD器件的运用,使仪器元器件大为减少,可靠性有了很大的提高,平均无故障工作时间≥10000h。整机外型美观大方,体积小,重量轻,使用方便。

 


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