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SC-3020B位置接近开关KGE1-1AP

SC-3020B位置接近开关KGE1-1AP

更新时间:2023-02-03

简要描述:

SC-3020B位置接近开关KGE1-1AP
不受检测物体颜色的影响对检测对象的物理性质变化进行检测,所以几乎不受表面颜色等的影响

SC-3020B位置接近开关KGE1-1AP

SC-3020B位置接近开关KGE1-1AP

特长:
1、由于能以非接触方式进行检测,所以不会磨损和损伤检测对象物。
2、由于采用无接点输出方式,因此寿命延长(磁力式除外)采用半导体输出,对接点的寿命无影响。
3、与光检测方式不同,适合在水和油等环境下使用,而且检测时几乎不受检测对象的污渍和油、水等的影响。此外,还包括特氟龙外壳型及耐药品良好的产品。
4、与接触式开关相比,可实现高速响应
5、能对应广泛的温度范围
6、不受检测物体颜色的影响对检测对象的物理性质变化进行检测,所以几乎不受表面颜色等的影响
7、与接触式不同,会受周围温度的影响、周围物体、同类传感器的影响包括感应型、静电容量型在内,传感器之间相互影响。因此,对于传感器的设置,需要考虑相互干扰。此外,在感应型中,需要考虑周围金属的影响,而在静电容量型中则需考虑周围物体的影响。

SC-3020B位置接近开关

基本原理:

通过外部磁场影响,检测在导体表面产生的涡电流引起的磁性损耗。在检测线圈内使其产生交流磁场,并检测体的金属体产生的涡电流引起的阻抗变化进行检测的方式。此外,作为另外一种方式,还包括检测频率相位成分的铝检测传感器,和通过工作线圈仅检测阻抗变化成分的全金属传感器。

 

 


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