LJ30A3-10-Z接近开关CJF30-12KA

LJ30A3-10-Z接近开关CJF30-12KA

LJ30A3-10-Z接近开关CJF30-12KA

接近传感器，是代替限位开关等接触式检测方式。以无需接触检测对象进行检测为目的的传感器的总称。能检测对象的移动信息和存在 信息转换为电器信号，在换为电气信号的检测方式中，包括利用电磁感应引起的检测对象的金属体中产生的涡电流的方式，捕测体的接近 引起的电气信号的容量变化的方式、利石和引导开关的方式。在JIS规格中，根据IEC60947-5-2的非接触式位置检测用开关，制定了JIS规格 (JISC8201-5-2低压开关装置、第5控制电路机器及开关元件、第2节接近开关)。在JIS的定义中，在传感器中也能以非接触方式检测到物体的 接近和附近检测对象有无的产品总称为“接近开关"，由传感器、静电容量型、超声波型、光电型、磁力型等构成。在本技术指南中，将检测 金属存在的感应型接近传感器、检测金属及非金属物体存在的静电容量接近传感器、利用磁力产生的直流磁场的开关定义的“接近传感器"。

LJ30A3-10-Z/EX交直流接近开关

接近传感器，是代替限位开关等接触式检测方式。以无需接触检测对象进行检测为目的的传感器的总称。能检测对象的移动信息和存在 信息转换为电器信号，在换为电气信号的检测方式中，包括利用电磁感应引起的检测对象的金属体中产生的涡电流的方式，捕测体的接近 引起的电气信号的容量变化的方式、利石和引导开关的方式。在JIS规格中，根据IEC60947-5-2的非接触式位置检测用开关，制定了JIS规格 (JISC8201-5-2低压开关装置、第5控制电路机器及开关元件、第2节接近开关)。在JIS的定义中，在传感器中也能以非接触方式检测到物体的 接近和附近检测对象有无的产品总称为“接近开关"，由传感器、静电容量型、超声波型、光电型、磁力型等构成。在本技术指南中，将检测 金属存在的感应型接近传感器、检测金属及非金属物体存在的静电容量接近传感器、利用磁力产生的直流磁场的开关定义的“接近传感器"。

接近开关CGJ-A12-4APA

接近开关CGJ-A12-4APB

接近开关CGJ-A12M-2ANA

接近开关CGJ-A12M-2ANB

接近开关CGJ-A12M-2APA

接近开关CGJ-A12M-2APB

接近开关CGJ-A18-8ANA

接近开关CGJ-A18-8ANB

接近开关CGJ-A18-8APA

接近开关CGJ-A18-8APB

接近开关CGJ-A18M-5ANA

接近开关CGJ-A18M-5ANB

接近开关CGJ-A18M-5APA

接近开关CGJ-A18M-5APB

接近开关CGJ-A30-15ANA

接近开关CGJ-A30-15ANB

接近开关CGJ-A30-15APA

接近开关CGJ-A30-15APB

接近开关CGJ-A30M-10ANA

接近开关CGJ-A30M-10ANB

接近开关CGJ-A30M-10APA

接近开关CGJ-A30M-10APB

接近开关CGJ-E100-60ANA

接近开关CGJ-E100-60ANB

接近开关CGJ-E100-60APA

接近开关CGJ-E100-60APB

接近开关CGJ-E80-50ANA

接近开关CGJ-E80-50ANB

接近开关CGJ-E80-50APA

接近开关CGJ-E80-50APB

接近开关CLJ-A12-4ANA-G

接近开关CLJ-A12-4ANA-G3

接近开关CLJ-A12-4ANB-G

接近开关CLJ-A12-4ANB-G3

接近开关CLJ-A12-4ANC-G

接近开关CLJ-A12-4ANC-G3

接近开关CLJ-A12-4APA-G

接近开关CLJ-A12-4APA-G3

接近开关CLJ-A12-4APB-G

接近开关CLJ-A12-4APB-G3

接近开关CLJ-A12-4APC-G

接近开关CLJ-A12-4APC-G3

接近开关CLJ-A12A-4ALA

接近开关CLJ-A12A-4ALB