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Fluke Ti 20 热成像仪 热分析仪器

Fluke Ti 20 热成像仪 热分析仪器

更新时间:2023-07-05

简要描述:

Fluke Ti 20 热成像仪
全面的辐射范围实现详细的温度分析和跟踪关键组件
配备 InsideIR 软件的综合解决方案允许用户方便快速地分析、报告和设定路线

Fluke Ti 20 热成像仪

随时提供非接触式的温度图像,快速确定热点

全面的辐射范围实现详细的温度分析和跟踪关键组件

配备 InsideIR 软件的综合解决方案允许用户方便快速地分析、报告和设定路线

宽大彩色液晶显示屏显示清晰亮丽的图像以及数据和路线指示

革新的探测器技术提供清晰的热图像且准确地测量温度

350 °C 的测量上限涵盖了众多的工业应用场合

防尘和防潮的优异保护性能(符合 IP54 标准)可以从容应对各种恶劣的工业环境

每次电池充电均可保证连续 3 小时的操作

凭借单手控制的“一指通”操作和直观的屏显指南,Ti20 热像仪非常易于使用,不需专业培训便可进行准确的测量。 只需指向目标,对焦仪器,它就会自动调整温度范围来显示清晰鲜明的图像。 一旦用户扣动扳机,便会存储图像及相关的测量数据。 通过随附的软件,用户可以随心更改主要图像参数,从而优化图像和抽取多的细节,而无需返回工厂车间重新扫描。

热参数    

探测器类型:    硅探测器,非制冷焦平面

准确度:    ±2% 或 ±2ºC(取大者)

准确度(-10 至 0 C):    +/- 3ºC

重复性:    ±1% 或 ±1ºC(取大者)

NETD:    200 mK

温度显示分辨率:    0.1 ºC

光学/红外    

光谱范围:    7.5-14 微米

目标瞄准:    单波长激光点(符合 lEC 2 类及 FDA II 类要求)

光学分辨率:    75:1

测量圆点小直径:    8.1 mm(距离为 61cm 时)

视场 (FOV):    20º 水平 x 15º 垂直

控制    

焦点:    可聚焦,15 cm 至无穷远

温标:    可选择 ºC

色板:    灰色、反灰色、蓝红、铁红、彩虹、热金属、高对比度、蓝红、经色、琥珀色

测量模式:    可选择自动或手动

激光开/关:    随附

增益控制:    随附

级别控制:    随附

LCD 背光:    可选择亮或暗

操作    

可调辐射系数:    0.10 至 1.00,步长 0.01

液晶显示:    TFT 技术,适于室内及室外使用,70.5 mm x 53.5 mm

反射背景温度:    -50 至 905ºC

操作环境温度:    -10 至 50ºC

相对湿度:    10 至 90% 不结露

存放温度:    -25 至 70ºC [不带电池]

存储能力:    100 张图像

激光开启图标:    随附

电池电量不足图标:    随附

测量模式图标:    随附

热分析软件:    InsideIR(随附)

PC 软件操作系统:    Microsoft® Windows 2000® 或 Windows XP®

电气    

电源:    充电电池组(随附)

电池寿命:    至少连续使用 3 小时

数据传输:    USB 接口,50 幅图像的总传输时间仅为 25 秒

存储设备:    快速存储器

其它    

三脚架(6.35 mm (1/4) 20 统一标准螺纹)    

重量(包括电池):    1.2 kg

保修:    1 年

产地:    美国

撞击防护:    半正弦波,11 ms,30 g 峰值,符合 mil-prf-28800f

振动防护:    

- 随机    6G

EMC:    EN 61326-1

Fluke Ti 20 热成像仪


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