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CT200F磁性覆层测厚仪

CT200F磁性覆层测厚仪

更新时间:2022-07-13

简要描述:

CT200F磁性覆层测厚仪
CT200升级版在开发过程中,增强了数据统计功能,数据存储采用回环覆盖方式,避免了新用户使用时出现存储器满的异常。新增了CT200N型(涡流法),采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。

CT200F磁性覆层测厚仪

产品综述:

        CT200F涂层测厚仪(CT200升级版)采用了磁性测厚方法,可无损的测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、油漆、锡、铝、铬、铜、珐琅、橡胶等)。广泛地应用在电镀、防腐、航天航k、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域,是材料保护行业*的仪器。它能快速、无损伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。 
CT200升级版在开发过程中,增强了数据统计功能,数据存储采用回环覆盖方式,避免了新用户使用时出现存储器满的异常。新增了CT200N型(涡流法),采用了磁性和涡流两种测厚方法,即可测量磁性金属基体上非磁性覆盖层的厚度又可测量非磁性金属基体上非导电覆盖层的厚度。

●更加方便的数据统计、增加存储量  

●任意界面测量

●新颖的界面布局 

●简洁、经济、实用

●增加了涡流功能测厚,实现一机两用

●设有五个统计量:平均值(MEAN)、*大值(MAX)、*小值(MIN)、测试次数(NO.)

标准偏差(S.DEV)

●具有存贮功能:可存贮500个测量值

CT200F磁性覆层测厚仪

技术参数:

测头类型

CT200F

CT200N

工作原理

磁感应

电涡流

测量范围

0~1250μm

0~1250μm,其中:铜上镀铬(0~40μm)

分辨力

0.1μm(0~50μm),1微米(>50μm)

测量误差

3%H+1μm(H为测量范围)

示值误差

一点校准(μm)

±(3%H+1)

±(3%H+1)

测试条件

*小曲率半径(μm)

凸1.5

凸3

*小面积的直径(μm)

Φ7

Φ5

基体临界厚度(㎜)

0.5

0.3

工作电压

3*1.5V

外形尺寸

155㎜*68㎜*27㎜

整机重量

230g

标准配置

主机、探头(F或N)、基体(铁或铝)、标准片

 

CT200F涂层测厚仪(CT200升级版)标准配置:

主机、探头(F或N)、基体(铁或铝)、标准片、电池、随机文件、仪器箱

 


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